EMI 사전 적합성 테스트를 위한 Real-Time Solutions

전자-반도체, RF 및 무선통신 규격, RF/무선 측정

솔루션 개요

왜 설계 초기 단계의 EMI 분석이 필수적인가?

신규 제품 개발 시 첫 번째 공인 인증 테스트에서 탈락하는 비율은 약 50%에 달합니다.
인증 실패 후 재설계와 재테스트에 드는 비용은 초기 계획 대비 최대 100%까지 급증하며,
이는 출시 지연으로 인한 비즈니스 타격으로 이어집니다.
이러한 상황을 방지하려면 개발 초기 단계부터 EMC 분석과 측정을 시작해야 하며,
개발 전 과정에 걸쳐 지속적인 사전 적합성 점검이 병행되어야 합니다.

EMI Pre Compliance Test_Real Time Solutions

완전한 사전 적합성 테스트 솔루션 컴파일

복잡한 EMI 측정을 단순화하는 핵심 도구

– Scan Table: CISPR 표준에 따른 6dB RBW 필터와 주파수 범위를 미리 정의하여, 복잡한 설정 없이 즉시 측정을 시작할 수 있습니다.
– Advanced Meter: Peak, Quasi-Peak(QP), CISPR Average(C-AV) 검출기를 병렬로 활성화하여, 최악의 노이즈와 반복 펄스 속도를 실시간으로 동시 모니터링합니다.
– Real-time Analysis (RTSA): 간헐적으로 발생하는 산발적 노이즈(Intermittent Noise)를 놓치지 않고 포착하여 근본 원인을 디버깅하는 데 탁월한 통찰을 제공합니다.

전도성 및 방사성 방출 테스트 솔루션

설계 초기 단계에서 리스크를 조기에 발견할 수 있도록하는 세가지 핵심 솔루션

– 전도성 방출 (CE): 30MHz 이하 대역에서 라인을 통해 흐르는 노이즈를 측정합니다.
LISN을 활용해 전력선의 간섭은 차단하고 시험 대상 기기(DUT)의 교란 신호만 정밀 분석합니다.
– 방사성 방출 (RE): 기기에서 전파 형태로 뿜어내는 노이즈를 측정합니다.
TEM Cell을 사용하면 고가의 챔버 없이도 반복 가능한 신뢰성 있는 테스트 환경을 구축할 수 있습니다.
– 근거리장 프로빙 (Near-field): NFP-3 프로브 세트를 이용해 기판 및 하우징의 미세 노이즈 소스를 탐지합니다. 인증 실패 시 정확한 문제 지점을 찾아 디버깅하는 데 필수적입니다.

감수성(Susceptibility) 분석 및 VNA 활용

– 다각적 검증: VSA(벡터 신호 분석) 모드를 통해 내성 테스트 중 RF 출력의 변조 품질(EVM) 및 에러율(BER)을 분석할 수 있으며, I/Q 스트림을 별도로 표시하여 송신기의 취약 섹션을 확인할 수 있습니다.
– 네트워크 분석 통합: 내장된 VNA(벡터 네트워크 분석기) 기능을 사용하면 관련 안테나나 필터 등 구성 요소의 성능 저하 여부를 스미스 차트(Smith Chart)와 SWR 파라미터로 즉시 측정할 수 있습니다.

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시스템 구성

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상세 내용

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스펙트럼 분석기

RIGOL

RSA3000 시리즈

최대주파수: 4.5 GHz
DANL: -161 dBm
위상노이즈: -102 dBc/Hz (@10kHz)
실시간 대역폭 (RTBW): 10 MHz (옵션 40 MHz)
100% POI (신호 포착): 최소 7.45 μs

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