전력 반도체 소자(SiC,IGBT)의 동적 성능 분석 및 테스트 가이드
솔루션 개요
차세대 전력 반도체, SiC 소자의 부상
SiC의 강점
실리콘(Si) 소자의 이론적 한계를 극복하고 더 높은 스위칭 속도와 접합 온도에서도 안정적으로 동작합니다.
시스템 효율화
고전압·고전류 처리가 가능해 변환기의 효율과 전력 밀도를 높이고 전체 시스템 비용을 절감합니다.
주요 적용 분야
자동차 구동 인버터, 전기차 온보드 충전기(OBC), 태양광 인버터, 에너지 저장 장치(ESS) 등 광범위한 산업에 적합합니다.

스위칭 특성 검증을 위한 ‘더블 펄스 테스트(DPT)’
– 테스트 목적: 실제 동작 환경을 모사하여 스위칭 손실(Eon, Eoff), 스위칭 시간, 역회복 특성 등의 핵심 동적 파라미터를 측정합니다.
– 동작 원리: 버스 커패시터, 부하 인덕터, 구동 회로로 구성된 회로에서 두 번의 펄스 신호를 인가하여 첫 번째 턴오프와 두 번째 턴온 시의 동적 성능을 분석합니다.
– 설계 검증: 게이트 저항의 적정성을 평가하고 구동 신호의 기울기를 최적화하여 스위칭 진동을 최소화합니다.

고정밀 측정을 위한 통합 테스트 아키텍처
– 장비 통합: 오실로스코프, 신호 발생기, 고전압 DC 전원, 전용 프로브 및 소프트웨어를 하나로 통합하여 단일/더블/멀티 펄스 측정을 지원합니다.
– DG5000 Pro: 사용자 친화적인 UI를 통해 원하는 펄스 폭의 구동 신호와 데드 타임(Dead-time)을 정밀하게 생성합니다.
– MHO5106 오실로스코프: 전압 및 전류 파형을 실시간으로 캡처하고 복잡한 파라미터를 자동 계산합니다.

신뢰할 수 있는 데이터 분석 및 자동 계산
– 포괄적 파라미터: 턴온/턴오프 지연, 상승/하강 시간, 역회복 전류(Irr), 전하(Qrr), 에너지(Err) 등 필수 항목을 모두 포함합니다.
– 고도화된 알고리즘: 전용 스위칭 손실 알고리즘과 프로브 지연 시간(Skew) 정밀 보상 기능을 통해 측정 신뢰도를 극대화합니다.
– 다양한 분석 지표: dv/dt, di/dt 측정부터 스위칭 전이(Transition) 과정에서의 안전 마진까지 다각도로 평가합니다.

시스템 구성
항목
브랜드
모델명
주요 사양
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디지털 오실로스코프
RIGOL
DHO5000 시리즈
MHO5000 시리즈
• 6 / 8 채널
• 1 GHz 대역폭
• 4 GSa/s 샘플링 속도
• 500 Mpts 메모리 깊이
함수/임의 파형 발생기
RIGOL
DG5000Pro
• 임의의 펄스 폭을 가진 단일 채널
다중 펄스 출력
• 제어 가능한 데드 타임(Dead-time)을
가진 이중 채널 다중 펄스 출력
브랜드 / 모델명 / 주요사양
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RIGOL 오실로스코프
DHO5000 시리즈
MHO5000 시리즈
6 / 8 채널, 1 GHz 대역폭
4 GSa/s 샘플링 속도, 500 Mpts 메모리 깊이
RIGOL 함수/임의 파형 발생기
DG5000Pro 시리즈
임의의 펄스 폭을 가진 단일 채널 다중 펄스 출력,
제어 가능한 데드 타임(Dead-time)을 가진
이중 채널 다중 펄스 출력
RIGOL 광 절연 프로브
PIA1000 시리즈
최대 1GHz 대역폭, 최대 180 dB CMRR
선택 가능한 차동 모드 전압 범위: 최대 ± 2500 V
기술 자료
카테고리
제목
설명
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어플리케이션 노트
전력 반도체 소자(SiC/IGBT)의 동적 성능 분석 및 테스트 가이드
(Dynamic Performance Analysis of Power Semiconductors)
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