USB, PCIe, MIPI 등 고속 인터페이스는 데이터 무결성과 타이밍 정확성이 핵심입니다.​
고속 데이터 전송에서 발생하는 지터, Eye-Diagram 왜곡, Crosstalk 문제는 제품 성능에 직접 영향을 줍니다.​
신호 무결성 분석은 반도체 설계 검증과 시스템 레벨 테스트에서 필수입니다.​
아이 다이어그램 분석으로 신호 품질을 시각화하고, 지터 측정으로 타이밍 안정성을 평가합니다.​
Compliance Test 자동화 기능은 표준 규격 적합성을 빠르게 검증하고 리포트를 생성합니다.​
반도체 산업은 점점 더 높은 속도와 낮은 전력 소비를 요구하며, 이는 테스트 복잡성을 증가시킵니다.​
정밀 계측은 개발 리스크를 줄이고, 제품 출시 시간을 단축하며, 고객 신뢰를 확보합니다.