DS80000최대 13 GHz 440 GSa/s4Gpts(opt.)250,000 wfms/s-바로가기DS80000대역폭 : 최대 13 GHz –아날로그 채널 :4–실시간 샘플링 속도 : 40 GSa/s–최대 메모리 깊이 : 4Gpts(opt.)–파형 캡처 속도 : 250,000 wfms/s– 디지털 채널 : -바로가기
DS70000최대 5 GHz 420 GSa/s2 Gpts(opt.)1,000,000 wfms/s16바로가기DS70000대역폭 : 최대 5 GHz –아날로그 채널 :4–실시간 샘플링 속도 : 20 GSa/s–최대 메모리 깊이 : 2 Gpts(opt.)–파형 캡처 속도 : 1,000,000 wfms/s– 디지털 채널 : 16바로가기
MHO/DHO5000최대 1 GHz 84 GSa/s500 Mpts1,000,000 wfms/s16바로가기MHO/DHO5000대역폭 : 최대 1 GHz –아날로그 채널 :8–실시간 샘플링 속도 : 4 GSa/s–최대 메모리 깊이 : 500 Mpts–파형 캡처 속도 : 1,000,000 wfms/s– 디지털 채널 : 16바로가기
MSO8000A최대 2 GHz 410 GSa/s500 Mpts600,000 wfms/s16(Probe opt.)바로가기MSO8000A대역폭 : 최대 2 GHz –아날로그 채널 :4–실시간 샘플링 속도 : 10 GSa/s–최대 메모리 깊이 : 500 Mpts–파형 캡처 속도 : 600,000 wfms/s– 디지털 채널 : 16(Probe opt.)바로가기
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