전자·반도체 연구·개발을 위한 고정밀 계측 솔루션
고성능 전력 반도체와 고속 디지털 소자의 설계에서는 SiC·GaN 기반 스위칭 특성, 전력 변환 효율, 신호 무결성 등 정확한 측정과 신뢰성 검증이 필수적입니다.
웨이브인센스는 반도체 디바이스 특성화부터 회로 동작 분석, 고주파·고속 신호 테스트까지 다양한 개발 단계에 적합한 정밀하고 안정적인 테스트 환경을 제공합니다.
고속 인터페이스 및 신호 무결성 분석
USB, PCIe, MIPI 등 고속 인터페이스는 데이터 무결성과 타이밍 정확성이 핵심입니다.
고속 데이터 전송에서 발생하는 지터, Eye-Diagram 왜곡, Crosstalk 문제는 제품 성능에 직접 영향을 줍니다.
신호 무결성 분석은 반도체 설계 검증과 시스템 레벨 테스트에서 필수입니다.
아이 다이어그램 분석으로 신호 품질을 시각화하고, 지터 측정으로 타이밍 안정성을 평가합니다.
Compliance Test 자동화 기능은 표준 규격 적합성을 빠르게 검증하고 리포트를 생성합니다.
반도체 산업은 점점 더 높은 속도와 낮은 전력 소비를 요구하며, 이는 테스트 복잡성을 증가시킵니다.
정밀 계측은 개발 리스크를 줄이고, 제품 출시 시간을 단축하며, 고객 신뢰를 확보합니다.
관련 어플리케이션
RIGOL OSC
DHO5000 시리즈
MHO5000 시리즈
RIGOL 파형발생기
DG5000Pro
프로브: PIA1000
SiC 및 IGBT 소자의 스위칭 효율을 극대화하는 더블 펄스 테스트(DPT) 구성과 정밀 분석 노하우를 담았습니다. 고전압 환경에서도 노이즈 없는 동적 특성 평가를 실현하는 웨이브인센스의 솔루션을 확인하세요.
RIGOL OSC
DHO5000 시리즈
MHO5000 시리즈
RIGOL 파형발생기
DG5000Pro
프로브: PIA1000
RIGOL OSC
-MHO5000 시리즈
MHO5000 시리즈 오실로스코프의 보데 선도(Bode Plot) 기능을 활용하여 전원 장치의 안정성을 분석하는 방법을 상세히 설명합니다. 엔지니어가 루프 분석을 효율적으로 실행하여 제품의 품질을 높일 수 있도록 돕는 기술 자료입니다.
RIGOL OSC
-MHO5000 시리즈
RIGOL OSC
- DS80000/70000 시리즈
RIGOL AWG
- DG 5000/900 Pro 시리즈
신호 무결성 보장을 위한 필수 과정, 이더넷 적합성 테스트의 핵심 절차와 구성을 소개합니다.
MLT-3 및 4D-PAM5 인코딩 신호 분석부터 아이 다이어그램(Eye Diagram), 지터(Jitter) 측정까지 웨이브인센스의 솔루션을 활용한 완벽한 테스트 가이드를 확인해 보세요.
RIGOL OSC
- DS80000/70000 시리즈
RIGOL AWG
- DG 5000/900 Pro 시리즈
RIGOL OSC
- MHO2000 시리즈
- MSO5000/8000 시리즈
- DHO/MHO5000 시리즈
RIGOL DC 로드
- DL3000 시리즈
신호 무결성 보장을 위한 필수 과정, 이더넷 적합성 테스트의 핵심 절차와 구성을 소개합니다.
MLT-3 및 4D-PAM5 인코딩 신호 분석부터 아이 다이어그램(Eye Diagram), 지터(Jitter) 측정까지 웨이브인센스의 솔루션을 활용한 완벽한 테스트 가이드를 확인해 보세요.
RIGOL OSC
- MHO2000 시리즈
- MSO5000/8000 시리즈
- DHO/MHO5000 시리즈
RIGOL DC 로드
- DL3000 시리즈
RIGOL OSC
- DS70000 시리즈
- DS80000 시리즈
데이터 무결성을 위한 USB 2.0 신호 품질 테스트 가이드입니다. 지터, Rise/Fall Time, 아이 다이어그램 분석을 포함한 웨이브인센스만의 최적화된 컴플라이언스 테스트 솔루션을 확인해 보세요.
RIGOL OSC
- DS70000 시리즈
- DS80000 시리즈
관련 리소스
