• 프로토타이핑 단계의 리스크 관리: 최종 적합성 시험(Full-compliance test) 단계에서의 EMI 불합격은 하드웨어 전면 수정 및 설계 변경을 초래하여 리소스를 낭비하고 제품 출시를 지연시킵니다. 따라서 선행 개발 및 상품화 초기 단계에서 사전 디버깅(Pre-compliance)을 통해 잠재적 문제를 선제적으로 제거하는 것이 필수적입니다.

• 시간 상관 RF 측정 기술: MXO 시리즈 오실로스코프는 아날로그 신호, 디지털 타이밍, 버스 프로토콜과 주파수 스펙트럼을 완벽하게 동기화하는 기능을 제공합니다. 이를 통해 전기 및 전자적 변화의 발생 시점과 RF 에너지 방사 소스의 물리적 위치를 동시에 분석하여, 문제의 근본 원인을 실시간으로 규명할 수 있습니다.

시간 도메인 상에서 스위칭 오버슈트 등 특정 이벤트가 발생하는 구간(Gate)을 지정하여 독립적인 주파수 분석(FFT)을 수행할 수 있습니다. 이 기능은 특정 전기적 동작과 주파수 도메인 노이즈 사이의 인과관계를 명확히 판별하고 격리하는 데 매우 효과적입니다.