전력 반도체 소자(SiC,IGBT)의 동적 성능 분석 및 테스트 가이드

자동차, 전자-반도체, 전력 설계, 모빌리티, 전력분석 및 배터리 설계, 자동화/로봇

솔루션 개요

차세대 전력 반도체, SiC 소자의 부상


SiC의 강점
실리콘(Si) 소자의 이론적 한계를 극복하고 더 높은 스위칭 속도와 접합 온도에서도 안정적으로 동작합니다
.

시스템 효율화
고전압·고전류 처리가 가능해 변환기의 효율과 전력 밀도를 높이고 전체 시스템 비용을 절감합니다
.

주요 적용 분야
자동차 구동 인버터, 전기차 온보드 충전기(OBC), 태양광 인버터, 에너지 저장 장치(ESS) 등 광범위한 산업에 적합합니다.

스위칭 특성 검증을 위한 ‘더블 펄스 테스트(DPT)’

– 테스트 목적: 실제 동작 환경을 모사하여 스위칭 손실(Eon, Eoff), 스위칭 시간, 역회복 특성 등의 핵심 동적 파라미터를 측정합니다.
동작 원리: 버스 커패시터, 부하 인덕터, 구동 회로로 구성된 회로에서 두 번의 펄스 신호를 인가하여 첫 번째 턴오프와 두 번째 턴온 시의 동적 성능을 분석합니다.
– 설계 검증: 게이트 저항의 적정성을 평가하고 구동 신호의 기울기를 최적화하여 스위칭 진동을 최소화합니다.

고정밀 측정을 위한 통합 테스트 아키텍처

– 장비 통합: 오실로스코프, 신호 발생기, 고전압 DC 전원, 전용 프로브 및 소프트웨어를 하나로 통합하여 단일/더블/멀티 펄스 측정을 지원합니다.
– DG5000 Pro: 사용자 친화적인 UI를 통해 원하는 펄스 폭의 구동 신호와 데드 타임(Dead-time)을 정밀하게 생성합니다.
– MHO5106 오실로스코프: 전압 및 전류 파형을 실시간으로 캡처하고 복잡한 파라미터를 자동 계산합니다.

신뢰할 수 있는 데이터 분석 및 자동 계산

– 포괄적 파라미터: 턴온/턴오프 지연, 상승/하강 시간, 역회복 전류(Irr), 전하(Qrr), 에너지(Err) 등 필수 항목을 모두 포함합니다.
– 고도화된 알고리즘: 전용 스위칭 손실 알고리즘과 프로브 지연 시간(Skew) 정밀 보상 기능을 통해 측정 신뢰도를 극대화합니다.
– 다양한 분석 지표: dv/dt, di/dt 측정부터 스위칭 전이(Transition) 과정에서의 안전 마진까지 다각도로 평가합니다.

시스템 구성

항목

브랜드

모델명

주요 사양

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디지털 오실로스코프

RIGOL

DHO5000 시리즈
MHO5000 시리즈

• 6 / 8 채널
• 1 GHz 대역폭
• 4 GSa/s 샘플링 속도
• 500 Mpts 메모리 깊이

함수/임의 파형 발생기

RIGOL

DG5000Pro

• 임의의 펄스 폭을 가진 단일 채널
다중 펄스 출력
• 제어 가능한 데드 타임(Dead-time)을
가진 이중 채널 다중 펄스 출력

광 절연 프로브

RIGOL

PIA1000

• 최대 1GHz 대역폭
• 최대 180 dB CMRR
• 선택 가능한 차동 모드 전압 범위:
최대 ± 2500 V

PVA8000 시리즈

브랜드 / 모델명 / 주요사양

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RIGOL 오실로스코프
DHO5000 시리즈
MHO5000 시리즈
6 / 8 채널, 1 GHz 대역폭
4 GSa/s 샘플링 속도, 500 Mpts 메모리 깊이

RIGOL 함수/임의 파형 발생기
DG5000Pro 시리즈
임의의 펄스 폭을 가진 단일 채널 다중 펄스 출력,
제어 가능한 데드 타임(Dead-time)을 가진
이중 채널 다중 펄스 출력

RIGOL 광 절연 프로브
PIA1000 시리즈
최대 1GHz 대역폭, 최대 180 dB CMRR
선택 가능한 차동 모드 전압 범위: 최대 ± 2500 V

기술 자료

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전력 반도체 소자(SiC/IGBT)의 동적 성능 분석 및 테스트 가이드
(Dynamic Performance Analysis of Power Semiconductors)

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Ethernet Physical Layer Compliance Test Guide

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