아이 다이어그램(Eye Diagram)을 통한 신호 무결성 분석 솔루션
자동차, 전자-반도체, 공정 자동화/Robotics, 시리얼 통신 및 신호 품질측정
솔루션 개요
디지털 통신과 신호 무결성(Signal Integrity)
현대 고속 데이터 통신의 목표는 데이터 오류(Bit Error)를 최소화하는 것입니다.
이를 위해 수천 개의 비트 시퀀스를 중첩하여 신호의 변동성을 직관적으로 확인하는 방법이 바로
아이 다이어그램(Eye Diagram)입니다.
- 데이터 수집: 연속적인 비트 스트림 획득
- 클럭 복구(Clock Recovery): 비트 타이밍 결정을 위한 기준 클럭 추출
- 비트 중첩: 복구된 클럭을 기준으로 파형을 동일 위치에 겹쳐 쌓음
- 밀도 표시: 데이터 중첩 빈도를 색상이나 밝기로 시각화


눈(Eye)이 얼마나 열려 있는가?
아이 다이어그램 분석의 핵심은 “눈이 얼마나 깨끗하게 열려 있는가”를 정량적으로 측정하는 것입니다.
- 눈 높이(Eye Height): 수직 열림 정도로, 노이즈 마진과 관련이 있으며 높을수록 진폭 노이즈에 강합니다.
- 눈 너비(Eye Width): 타이밍 지터(Jitter)와 관련이 있으며, 넓을수록 샘플링 오류 확률이 낮아집니다.
- 상승/하강 엣지(Rise/Fall Edge): 신호 전이 기울기를 의미하며, 대역폭 제한 시 기울기가 완만해져 눈이 닫힐 수 있습니다.
실전 디버깅 사례: 왜곡된 신호를 복원하는 과정
실제 현장에서는 복합적인 요인이 신호 품질을 저해합니다.
단계별 조치를 통해 아이 패턴을 개선할 수 있습니다.
- 지터 개선: 주파수 변동을 일으키는 간섭을 제거하면 보라색 히스토그램이 대칭을 이루며 눈 너비가 개선됩니다.
- 노이즈 제거: 크로스토크 및 레이아웃 잡음을 제거하여 눈 높이를 확보합니다.
- 대역폭 최적화: 대역폭 제한 요소를 제거하여 엣지를 가파르게 세우면 비트 오류율(BER)이 낮아진 완전히 열린 아이 패턴이 형성됩니다.
MSO8000 시리즈: 전문적인 신호 무결성 분석 솔루션
RIGOL MSO8000 시리즈는 고속 신호 분석을 위한 최적의 성능과 툴킷을 제공합니다.
- 강력한 하드웨어: 최대 2GHz 대역폭과 10GSa/s 샘플링 속도로 정밀한 데이터 수집 가능
- 실시간 기반 아이 다이어그램: 수천 개의 비트를 실시간으로 중첩하여 간헐적인 신호 이상(Anomaly)을 즉각 포착
- 고급 클럭 복구: Constant Clock 및 실제 수신기 동작을 모사하는 PLL 클럭 복구 옵션 지원
- 통계적 검증: 마스크 테스트(Mask Test)로 Pass/Fail을 자동 판별하고, 히스토그램으로 노이즈의 인과 관계 분석

시스템 구성
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